常州锐奇精密测量技术有限公司

锐奇在线测厚系统测量传感器

 一、X/β射线传感器

    （1）  X/β射线传感器测厚原理 

  Ø X/β 射线传感器由射线发射器和射线探测器组成，发射器和探测器面对面安装，待测材料从发射器和探测器之间通过。

  Ø X /β 射线透射到被测材料时强度有一定的衰减。当材料成分不变时衰减比例与被穿透材料的面密度呈一定的系数关系。射线探测器探测透过材料前后的射线强度，即可计算出物质材料的面密度或厚度。

     （2）  国内顶级的X射线传感器                               Ø 由20年经验核探测技术专家倾力打造；                                         

    Ø X射线发射器采用最佳准直通道和小光斑设计， 发射器光斑直径8.5mm，比一般传感器具有更高测量分辨率；

        Ø 射线管采用软启动，软关断技术，长寿命设计，设计寿命5~7年；

  Ø 锐奇X射线探测器由电离室、前置放大器和控制电路组成。 电离室设计具有大空间，高抗干扰性和高灵敏度等特点。

  Ø     探测器具有1ms的高采样频率，和2~5ms的响应时间

  Ø 发射器和探测器采用双闭环控制，可实现自动校准和补偿 ；

  Ø 传感器具有超高的重复性精度，达到0.02g/㎡（2σ）          

    （3） 采用进口射线源的β射线传感器 

  Ø 射线源采用进口氪85（85Kr）放射源，具有更长寿命和高稳定性，衰变周期达10年。 

  Ø β射线传感器和X射线包含射线源和电离室探测器组成具有同样的测量原理。 

  Ø β射线放射源源舱采用多层金属防辐射封装，仅保留较小的出射窗口。源舱固定在全封闭的钢制壳体容器内，容器出射口设计有准直通道，用于集中射线的出射方向和较小的光斑直径，提高测量精度。 

  Ø 源盒具有独特自动开启和关闭的舱门机构，提高了辐射安全性。 

  Ø 传感器测量范围10~1000 g/m2，重复性精度达到±0.05g/㎡（2σ）。

 二、用于测量透明/半透明材料的近红外测量传感器

  （1）测量原理与应用特点

     利用一定波长范围段的近红外光透过透明材料会被材料分子中的H-O键或C-H键选择性吸收的原理，通过光电探测器探测含H-O键或C-H键材料对近红外光的吸收量，从而测量吸收材料的面密度或厚度。

      近红外测厚仪具有无辐射危害、受探头与被测材料的间距和角度的变化影响小、受温度变化影响小、测量精度高等特点，用于 塑料薄膜、胶带、多层膜等各种透明/半透明片材、卷材和涂层的面密度、厚度在线测量。

  （2） 美国进口近红外测厚传感器

  Ø    锐奇近红外测厚仪传感器采用美国MOISTECH公司原厂进口最新一代RIG3000近红外测量仪 ，为单探头设计，集发射器和探测接收器于一体。

     Ø 可采用单龙门架安装，安装简单方便，没有上下双探头扫描运动过程中的同步误差，更高精度和稳定性。 

  Ø 最佳测量范围：5μm~1000μm or 5~1000g/m2 （C-H） 

  Ø 重复精度：±0.5g/m2  或 ±0.5μ