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苏州威格尔纳米科技有限公司

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光学膜厚测量仪
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产品: 已关注次数:2028光学膜厚测量仪 
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有效期至: 长期有效
最后更新: 2018-09-05 16:09
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详细信息
设备主要参数          V-SR-100                 V-SR-200
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测量方式            可见 VIS,反射R       紫外UV, 可见 VIS,反射R
波长范围              380--1050nm             250--1050nm
厚度测量             15nm~250um              2nm--200um
光源                       钨卤灯                    钨卤灯+氕氘灯
重复精度                                  0.1 nm
测量时间                                  < 1秒
准确性                                2nm  或<0.5%
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